恒溫恒濕箱的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
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- [ 2012-07-24 ]
環(huán)境試驗是為了重現(xiàn)零件、部件以及整個系統(tǒng)將經(jīng)受的環(huán)境條件或作出加速的條件，并在此條件下調(diào)查被試品的特性、確認(rèn)耐用性而進行的試驗。
環(huán)境試驗設(shè)備設(shè)計、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗方法，隨著生產(chǎn)力的進步、國民經(jīng)濟的發(fā)展、環(huán)境試驗方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗設(shè)備亦隨之日益增多，被試品所遇到的環(huán)境條件也極其多樣復(fù)雜，要定出一種同樣的環(huán)境試驗方法來滿足所有的試驗?zāi)康氖菢O其困難的。
為了使環(huán)境試驗?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實施，需要有質(zhì)量上乘，性能合格的試驗設(shè)備。而要達到這一點，首先需要有一個統(tǒng)一衡量試驗設(shè)備的尺度，即環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)以及環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)，為了定量地體現(xiàn)可靠性，有必要規(guī)定試驗的環(huán)境條件和方法，制定出無論在什么地方都能用相同基準(zhǔn)進行可以互相作出評價的“標(biāo)準(zhǔn)”。
我國的環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)（以下簡稱“設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)”）及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)（以下簡稱“方法標(biāo)準(zhǔn)”）起草、發(fā)布、實施于二十世紀(jì)八十年代中期，以IEC68-1，2，3為基調(diào)等效采用。
恒溫恒濕箱的產(chǎn)品所執(zhí)行的國標(biāo)以溫度濕度為主，主要標(biāo)準(zhǔn)為：
環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn) 基本環(huán)境試驗規(guī)程
GB10586 濕熱試驗箱技術(shù)條件 GB2423.3 試驗Ca恒定濕熱試驗方法
GB2423.4 試驗Db交變濕熱試驗方法
GB10589 低溫試驗箱技術(shù)條件 GB2423.1 試驗A低溫試驗方法
GB10592 高低溫試驗箱技術(shù)條件 GB2423.22 試驗Nb溫度變化試驗方法
GB11158 高溫試驗箱技術(shù)條件 GB2423.2 試驗B高溫試驗方法
基本參數(shù)檢定方法采用GB5170
GB/T5170 電工電子產(chǎn)品試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法（1996修訂版明確本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于環(huán)境試驗設(shè)備在使用期間的周期檢定，以區(qū)別產(chǎn)品的型式試驗）
應(yīng)注意本公司產(chǎn)品是試驗箱而不是試驗方法，所以說本公司產(chǎn)品符合GB10586，GB10589，GB11158等試驗箱技術(shù)條件，可以用來做GB2423.1，2，3，4或GB2423.22中Nb的試驗。
